TH2884脈沖式線圈測試儀

線圈類產(chǎn)品（如變壓器、電機等）由于繞線材料、磁性材料、骨架、加工工藝等因素的影響會產(chǎn)生線圈層間、匝間及引腳間等絕緣性能的降低。TH2884系列脈沖式線圈測試儀是采用高速采樣技術(shù)研制的新一代線圈類產(chǎn)品絕緣性能的分析測試儀器。

TH2884將標準線圈的采樣波形存儲于儀器中，測試時將被測線圈的測試波形與標準波形比較，根據(jù)設(shè)定的判據(jù)（面積、面積差、毛刺總量、*大毛刺等）以判定被測線圈的優(yōu)劣。本儀器集成了強大的功能、精密的測試手段、靈活的操作方法及多種接口方式，可為大多數(shù)線圈類產(chǎn)品提供測試解決方案。

A.低至0.1μH，高至100μH的寬電感測試范圍

ＴＨ２８８４脈沖式線圈測試儀是針對低感量繞線元件設(shè)計研發(fā)，*小可測試0.1μＨ線圈的層間、匝間短路。低感量線圈測試時相對常規(guī)線圈測試，更容易受測試線的等效電感分壓影響，所以雙同軸四端測試（激勵與采樣各兩端）的方式，可以采集到待測件兩端的真實信號。

由于低感量線圈的實際工作電壓較低，測試中也需要用到低壓脈沖。ＴＨ2884設(shè)計電壓為10Ｖ－1000Ｖ，*低測試電壓達10Ｖ，因此可有效提高低感量線圈的測試分辨能力。

B.試前測試，提前判斷潛在**

試前測試是在正式測試前先以較低的電壓測試被測件，并利用*大毛刺及波峰差來判斷被測件是否有潛在的微短路**。以防止正式測試的較大電壓燒蝕內(nèi)部微短路處后絕緣改善引起的誤判。

C.線圈脈沖測試原理

脈沖測試法是對繞線元件施加一個非破壞性、高速、低能量的電壓脈沖。由于儲能電容（Ｃ１）與被測繞線元件并聯(lián)，脈沖電壓加載至并聯(lián)線路上后，產(chǎn)生ＬＣ諧振（Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ），通過觀察諧振振蕩（Ｏｓｃｉｌｌａｔｉｏｎｓ）的衰減情況即阻尼（Ｄａｍｐｉｎｇ）來了解繞線元件內(nèi)部線圈的狀態(tài)（包含線圈自身絕緣Ｒｘ、電感量Ｌｘ及并聯(lián)電容量Ｃｘ等狀態(tài)）。

用相同的電容器儲存相同的電壓，再通過相同寬度的脈沖放電施加至被測線圈與標準線圈，由于線圈電感量和Ｑ值的存在，將響應(yīng)一個對應(yīng)于該放電脈沖的電壓衰減波形，比較兩者衰減振蕩波形可判斷線圈優(yōu)劣。

上圖中的自激振蕩衰減振蕩波形直接和線圈的電感值Ｌ及品質(zhì)因素Ｑ值有著密切的關(guān)系，而Ｌ值及Ｑ值又和線圈的圈數(shù)（層間、匝間短路，圈數(shù)差）、制造工藝（電極焊接**），有導磁材料的情況下，還可判斷其材質(zhì)的差別等；高壓脈沖下電暈放電的發(fā)生還可以對繞組層間或多個繞組間絕緣**、磁芯絕緣**進行判定。

當線圈匝間或者層間出現(xiàn)下列情況時，會呈現(xiàn)不同波形：

Ｄ．波形比較方式 

ＴＨ２８８４脈沖式線圈測試儀將以往脈沖式線圈測試儀的四種比較模式擴展成為九種方式將被測件波形與儀器預(yù)存標準采樣波形進行比較：面積比較、面積差比較、毛刺總量比較、*大毛刺比較、波峰比比較、波峰差比較、角頻率及衰減系數(shù)比較、品質(zhì)因數(shù)比較，九種方式有如下不同點：

1.  面積比較

任意指定的Ａ－Ｂ區(qū)間內(nèi)對被測線圈測試波形面積進行（積分）計算，并與標準波形在此區(qū)間內(nèi)的面積進行比較，用這兩個波形面積的差異值與標準波形在此區(qū)間的面積的百分比作為判定依據(jù)，判定基準用百分比來設(shè)定。

波形面積近似地與能量損失成正比，故可使用面積比較方法來判斷線圈中的能量損耗情況，有效地檢測線圈層間和匝間短路。

2. 面積差比較

在任意指定Ａ－Ｂ區(qū)間內(nèi)對被測線圈測試波形和標準波形的Ｙ軸方向的差異值進行計算（積分計算的結(jié)果為Ａ－Ｂ區(qū)間內(nèi)的陰影部分）和標準波形在此區(qū)間的面積比較，基準用百分比來設(shè)定。

面積差比較方法主要表現(xiàn)了電感量Ｌ的差異和能量的損耗，這個比較方法可以有效的檢測標準線圈和被測線圈的電感量Ｌ的差異。

３．毛刺總量比較

將沒有毛刺的標準波形和有毛刺的采樣波形分別進行一次微分計算，得到一次微分波形，在任意指定的Ａ－Ｂ區(qū)間內(nèi)將一次微分波形進行積分計算，對得到的標準波形、被測波形面積的差異值與設(shè)定值進行比較。

將沒有毛刺的標準波形和有毛刺的測試波形分別進行一次微分計算，得到一次微分波形，如圖所示。

在任意指定的Ａ－Ｂ區(qū)間內(nèi)對一次微分波形面積進行（積分）計算，并與標準波形在此區(qū)間內(nèi)的面積進行比較，用這兩個波形面積的差異值與設(shè)定值進行比較。毛刺總量主要體現(xiàn)了待測線圈內(nèi)部的放電數(shù)量，可直觀反映待測線圈的內(nèi)部絕緣層破損所致短路打火的程度。

4.  *大毛刺比較

將沒有毛刺的標準波形和有毛刺的測試波形分別進行二次微分計算，得到二次微分波形，在任意指定的Ａ－Ｂ區(qū)間內(nèi)分別查找標準波形和測試波形二次微分波形*大值，兩個*大值的差異值和設(shè)定值進行比較。*大毛刺比較法可有效反映因電氣**或電極焊接**引起的放電程度。

5. 波峰比比較

將被測件自諧振波形的**個峰值與**個峰值計算出波峰比，與設(shè)定值進行比較。可直觀反映待測件相對標準品的等效并聯(lián)電阻與Ｑ值差異。

6. 波峰差比較

將標準波形和測試波形波峰比進行比較，用這兩個波峰比的差異值與標準波形的波峰比的百分比作為判定依據(jù)，判定基準用百分比來設(shè)定。

7. 角頻率ω、衰減系數(shù)λ比較（**CN117192443）

自體諧振波形的振蕩波形可近似的表示為V=A·eλt·cos(ωt)，ω即角頻率，λ即衰減系數(shù)，用同惠電子特有的*優(yōu)化算法，根據(jù)離散的采樣點計算出角頻率和衰減系數(shù)，再與標準波形的角頻率和衰減系數(shù)進行比較，用差異值與標準波形的角頻率和衰減系數(shù)的百分比作為判定依據(jù)，判定基準用百分比來設(shè)定。

８. 品質(zhì)因數(shù)比較

理論上λ＝０時，無阻尼震蕩，波峰間隔固定即為周期

指數(shù)函數(shù)的性質(zhì)導致固定間隔Ｔ的比值也固定（即波峰比）。

可**反映測試品與標準品之間品質(zhì)因素Ｑ的微小差異。

E. 破壞測試功能 

雖然線圈匝間短路和層間短路測試與施加電壓大小關(guān)系不是很大，但是線圈內(nèi)絕緣狀態(tài)測試中，施加的脈沖電壓幅度是一個很重要的問題。如何設(shè)置合適的測試電壓呢？

除了行業(yè)內(nèi)的規(guī)定電壓外，對于新品或試驗性的，可以通過該測試功能來找到適合的測試電壓。

TH2884脈沖式線圈測試儀應(yīng)用