PXle插卡式源表S2012C

聯訊儀器全新推出 PXIe 精密電源/測量單元 S2012C。其*小測量分辨率達10fA/100nV，輸出電壓高達±200V。進一步拓展了PXIe源表的應用場景，工程師可以使用 S2012C SMU(Source Measure Unit) 來測量低電流信號，同時PXIe SMU 的高通道密度、高速的測試吞吐率和靈活性可實現晶圓級參數測試、材料研究以及分析低電流傳感器和集成電路的特性等多種應用。

1、高精度

S2012C  分辨率高達10fA/100nV，電壓精度100μV，電流精度10pA ，可用于測量微小的泄漏電流等應用場合，泄漏電流通常在pA級別，S2012C搭配3同軸測量端子，用于nA級以下小電流測試。

2、Adaptive PFC系統

用戶可利用Adaptive PFC(Precise-Fast Control)系統，用戶可根據負載特性，調整相關參數，獲得更**，快速的輸出特性。

3、高速測量

S2012C *高可支持1M的采樣率，NPLC和采樣率可根據需要設定，以滿足高速高精度的測量場景。

4、構建多通道并行測試系統

基于PXIe的模塊化架構便于構建緊湊的并行多通道測試系統，可擴展至數百個通道來滿足晶圓級可靠性和并行測試需求。

5、直流I-V輸出能力

6、脈沖I-V輸出能力

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