TH510系列半導(dǎo)體器件C-V特性分析儀

性能特點(diǎn)

■ 10.1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800，Linux系統(tǒng)

■ 雙CPU架構(gòu)LCR，*快達(dá)0.56ms（1800次/秒）的測(cè)試速度

■ 點(diǎn)測(cè)、列表掃描、圖形掃描(選件)三種測(cè)試方式

■ 四寄生參數(shù)（Ciss、Coss、Crss、Rg）同屏測(cè)量及顯示

■ 快速導(dǎo)通測(cè)試Cont

■ 一體化設(shè)計(jì)：LCR+高壓源+通道切換

■ 標(biāo)配2通道測(cè)試，可同時(shí)測(cè)試兩個(gè)器件或雙芯片器件，通道

*多可擴(kuò)展至6通道，通道參數(shù)單獨(dú)保存

■ 快速充電，縮短電容充電時(shí)間，實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試

■ 自動(dòng)延時(shí)設(shè)置

■ 高偏置：VGS：0 - ±40V，VDS：0 – 200V/1500V

■ 10檔分選

應(yīng)用

■ 半導(dǎo)體元件/功率元件

二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光電子芯片等寄生電容測(cè)試、C-V特性分析

■ 半導(dǎo)體材料

晶圓、C-V特性分析

■ 液晶材料

彈性常數(shù)分析